測試插座和接觸器以進行最終測試
高度一致的尺寸穩定性、反覆測試週期的耐磨性和機械剛度對於這些精密零件的使用壽命和可靠性能至關重要。 某些設備還必須在 -65°C 至超過 175°C 的極端三溫測試條件下運行，具體取決於設備的最終使用環境。 這些測試應用中使用的材料還必須表現出最小的釋氣和脫落，以盡量減少被測晶元的任何污染。 隨著行業轉向下一代晶元，以及IC設計在更小的封裝限制下轉向更密集的陣列，這些性能要求只會增加。
Drake 通過開發極其耐用、堅固和穩定的超高性能聚合物製成的形狀，滿足了對半導體測試插座和巢穴的不斷變化和更嚴格的要求，非常適合半導體製造這一階段的性能要求：
Torlon 5030 是一種 30% 玻璃纖維增強聚 醯胺醯亞胺 ，具有高尺寸穩定性，熱膨脹率僅為未增強等級的一半。 它的玻璃纖維在高溫下提供非常高的剛度，而沒有與碳纖維相關的導電性。 它在高於 150°C/302°F 的負載下的抗蠕變性超過了半導體測試應用中使用的任何超高性能聚合物。 Torlon 5030 具有 38KSI/260 MPa 的抗壓強度和 PAI 固有的耐磨性，可抵抗壓縮形變，並在成品零件中提供長壽命和可靠的服務。 它還支援在從低溫到 250°C/482°F 的最嚴苛測試條件下對 IC 進行高速測試。
Torlon 4203L （也稱為 4203） 是一種未增強的有色牌號，可在晶片巢的低溫測試條件下實現精確的孔到孔間距和較長的使用壽命。 它的強度和韌性超過了 PEEK 和聚醯亞胺在高達250°C/482°F的低溫條件下的強度和韌性。
Drake 4200 PAI 是一種未增強的非著色牌號，在晶片巢的低溫測試條件下，還可以實現精確的孔到孔間距和較長的使用壽命。 然而，與 Torlon 4203L 不同的是，4200 牌號不含 TiO2 顏料，是半導體行業中一些人的首選，以消除著色牌號中存在的鈦和鋁中的痕量金屬污染。 Drake 4200 PAI的強度和韌性也超過了 PEEK 和聚醯亞胺，從低溫條件到250°C/ 482°F。
